Úvod do elektronové mikroskopie

Maximální zvětšení elektronových mikroskopů nyní přesahuje 15 milionkrát,
V roce 1931 M. Nohr a E. Ruska z Německa upravili vysokonapěťový osciloskop se zdrojem elektronů se studenou katodou a třemi elektronovými čočkami a získali více než desetinásobně zvětšené obrazy. Vynalezli transmisní elektronovou mikroskopii, která potvrdila možnost elektronového mikroskopu zesilujícího zobrazování. V roce 1932, se zlepšením Ruska, dosáhla rozlišovací schopnost elektronových mikroskopů 50 nanometrů, asi desetkrát více než u optických mikroskopů v té době, čímž se prolomila rozlišovací schopnost optických mikroskopů. V důsledku toho se pozornost začala věnovat elektronovým mikroskopům.
Ve 1940 letech společnost Hill ve Spojených státech kompenzovala rotační asymetrii elektronových čoček astigmatizérem, což vedlo k novému průlomu v rozlišení elektronových mikroskopů a postupně dosáhlo moderní úrovně. V Číně byl úspěšně vyvinut transmisní elektronový mikroskop s rozlišením 3 nanometry v roce 1958. V roce 1979 byl vyvinut také velký elektronový mikroskop s rozlišením 0,3 nanometru.
Přestože je rozlišovací schopnost elektronových mikroskopů daleko lepší než u optických mikroskopů, je obtížné u nich pozorovat živé organismy kvůli nutnosti pracovat ve vakuu a ozařování elektronovým paprskem může také způsobit radiační poškození biologických vzorků. Další otázky, jako je zlepšení jasu elektronového děla a kvality elektronových čoček, také vyžadují další výzkum.
Emisní rastrovací elektronový mikroskop
Hlavní použití: Tento přístroj má ultra vysoké rozlišení a dokáže pozorovat a zpracovávat obrazy sekundárních elektronů a obrazy odražených elektronů různých morfologií povrchu pevných vzorků. Vybavený vysoce výkonným rentgenovým energetickým spektrometrem může současně provádět kvalitativní, semikvantitativní a kvantitativní analýzu mikrobodových, liniových a povrchových prvků na povrchu vzorku a má schopnost komplexně analyzovat morfologii a chemické složky.
Kategorie přístroje: 03040702/Přístroje/Optické nástroje/Přístroje pro elektronickou optiku a iontovou optiku
Informace o indikátoru: Rozlišení obrazu sekundárních elektronů: 1,5nm Zrychlené napětí: 0-30kV Faktor zesílení: 100-500000 krát Plynulá nastavitelná pracovní vzdálenost: 5-35mm Plynulá nastavitelná náklon: -5 stupeň ~ Rentgenový spektrometr 45 stupňů: Rozlišení: 133 eV Rozsah analýzy: BU
Informace o přílohách: Nástroj pro pokovování zlatem a uhlíkem ISIS se systémem zpracování obrazu sonda zpětného rozptylu
Polní emisní rastrovací elektronová mikroskopie díky svému vysokému rozlišení poskytuje spolehlivý experimentální prostředek pro studium nanomateriálů. Kromě toho byly získány uspokojivé snímky jak pro polovodičové materiály, tak pro izolanty. Morfologická pozorování byla prováděna na supravodivých tenkých vrstvách, magnetických materiálech, tenkovrstvých materiálech pěstovaných epitaxí molekulárního paprsku a polovodičových materiálech. Analýza složení mikroregionů byla provedena na různých materiálech a byly získány uspokojivé výsledky